ICT4040XP/4880XP/8080XP 電路板故障檢測(cè)儀
keqi[ICT]系列檢測(cè)儀幫助您解除電路板維修中的煩惱。配合電腦使用，全部智能化。它利用電腦來(lái)彌補(bǔ)人工維修能力的不足，能夠在維修人員缺乏圖紙資料或不清楚電路板工作原理的情況下，對(duì)各種類(lèi)型的電路板進(jìn)行ASA分析或ICT測(cè)試，在線(xiàn)檢測(cè)元器件好壞，迅速檢測(cè)到電路板上故障元器件。簡(jiǎn)捷經(jīng)濟(jì)地修好各種類(lèi)型電路板。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
| ◆*的測(cè)試技術(shù)，強(qiáng)大的驅(qū)動(dòng)能力，任何故障原因的電路板皆可修好 |
| ◆友好簡(jiǎn)單的中文操作界面，不經(jīng)專(zhuān)業(yè)訓(xùn)練，任何人均可成為維修專(zhuān)家 |
| ◆無(wú)需電路原理圖，不必知道器件型號(hào)，對(duì)任何電路板皆可快速維修 |
| ◆40/40×2路數(shù)字電路測(cè)試功能，備有TTL/CMOS/RAM及中規(guī)模集成電路數(shù)據(jù)庫(kù) |
| ◆40/40×2（ASA）V/I，曲線(xiàn)分析測(cè)試功能 |
| ◆電路板測(cè)試存儲(chǔ)功能，被測(cè)板可與之比較 |
| ◆與進(jìn)口同類(lèi)儀器比較，性?xún)r(jià)比更優(yōu)，操作更方便 |
| ◆通用于各類(lèi)雙列直插式封裝芯片，可為大中規(guī)模集成電路提供分析測(cè)試 |
| ◆本功能亦可通過(guò)學(xué)習(xí)記錄，比較分析來(lái)測(cè)試 |
工作原理： 全功能ASA+ICT測(cè)試器
ASA（Analong signature Analysis）對(duì)元件每個(gè)管腳提供一個(gè)安全、低功率的掃描驅(qū)動(dòng)電壓信號(hào)，以便產(chǎn)生一個(gè)阻抗性圖并在CRT上顯示、且可存儲(chǔ)，以備比對(duì)。所有測(cè)試都是在靜態(tài)下（不加電）執(zhí)行，所以不會(huì)傷害元件。它不僅能快速掃描并存儲(chǔ)各類(lèi)IC每個(gè)管腳V/I曲線(xiàn)圖形，并且對(duì)各類(lèi)分立元件如：電阻、電容等同樣有效。
ICT（In circuit Testing）它能把待測(cè)元件與PC資料庫(kù)內(nèi)相對(duì)應(yīng)的元件資料作邏輯功能測(cè)試比較，測(cè)試時(shí)可在CRT上顯示元件管腳連接狀態(tài)，元件輸入管腳的輸入波形，同時(shí)顯示相應(yīng)輸出管腳的實(shí)測(cè)波形及標(biāo)準(zhǔn)波形，以便判定IC邏輯功能好壞。此功能可快速測(cè)試IC好壞，也可測(cè)試分析，還可識(shí)別不明型號(hào)的IC。
[ICT]系列檢測(cè)儀檢測(cè)更加可靠準(zhǔn)確
■ 功能測(cè)試軟件設(shè)上拉電阻——方便集電極開(kāi)路門(mén)的測(cè)試 ■ 功能測(cè)試外供電源穩(wěn)定可靠——各種大、中、小型被測(cè)電路板皆可測(cè)試 ■ 功能測(cè)試具有三態(tài)識(shí)別能力——可測(cè)三態(tài)器件和IC負(fù)載能力下降故障 ■ V/I測(cè)試正負(fù)掃描電壓——同時(shí)檢查正/反向V/I曲線(xiàn) ■ V/I測(cè)試六個(gè)掃描頻率——保證V/I曲線(xiàn)測(cè)試穩(wěn)定可靠 ■ V/I測(cè)試三種測(cè)試電壓幅度——確保各類(lèi)器件的V/I測(cè)試集成電路在線(xiàn)功能測(cè)試
集成電路在線(xiàn)狀態(tài)測(cè)試
本功能采用后驅(qū)動(dòng)隔離技術(shù)，可在線(xiàn)判定IC邏輯功能是否正確，可測(cè)74系列、4000/45000邏輯IC、75系列接口IC各種存儲(chǔ)器等千余種集成電路。
1、快速測(cè)試：直接顯示測(cè)試結(jié)果，迅速確定可疑IC
2、分析測(cè)試：顯示全部測(cè)試過(guò)程，測(cè)試激勵(lì)。預(yù)期和實(shí)際響應(yīng)，幫助分析故障原因
3、器件識(shí)別：查找無(wú)標(biāo)記型號(hào)IC或同功能不同型號(hào)的IC。
集成電路在線(xiàn)狀態(tài)測(cè)試
通過(guò)好壞板上相應(yīng)IC的狀態(tài)進(jìn)行比較，找出有故障的IC。
1、狀態(tài)學(xué)習(xí)：在線(xiàn)學(xué)習(xí)*IC的引腳關(guān)系，互連狀態(tài)和測(cè)試的激勵(lì)與響應(yīng)，并存入數(shù)據(jù)庫(kù)中
2、狀態(tài)比較：同故障板上相應(yīng)IC在線(xiàn)進(jìn)行狀態(tài)比較，根據(jù)兩者差異判定IC好壞
3、狀態(tài)顯示：顯示存入電腦庫(kù)中的各IC的狀態(tài)資料。
集成電路離線(xiàn)功能測(cè)試
離線(xiàn)測(cè)試IC功能好壞，自動(dòng)識(shí)別未知型號(hào)的芯片
IC邏輯圖查詢(xún)
可查閱邏輯電路的邏輯功能圖，管腳圖及部分參數(shù)。
V/I曲線(xiàn)測(cè)試
通過(guò)好壞板上相應(yīng)節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗圈的異同判定故障節(jié)點(diǎn)及故障IC
1、學(xué)習(xí)：在線(xiàn)學(xué)習(xí)*板上各節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗曲線(xiàn)（V/I曲線(xiàn)），并存入數(shù)據(jù)庫(kù)中
2、曲線(xiàn)比較：同故障板上相應(yīng)節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗曲線(xiàn)進(jìn)行比較，根據(jù)差異大小及維修經(jīng)驗(yàn)判定與此節(jié)點(diǎn)相關(guān)的IC是否損壞
3、曲線(xiàn)顯示：顯示已存入電腦庫(kù)中電路板上各個(gè)節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗圖資料大
網(wǎng)絡(luò)提取測(cè)試
使用戶(hù)方便的測(cè)試出元器件之間的連接關(guān)系，輔助判斷芯片的好壞。實(shí)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)提取采用了四種模式：
| 1、探棒對(duì)探捧（“棒”—“棒”模式） | 3、測(cè)試夾對(duì)探捧（“夾”—“棒”模式） |
| 2、探捧對(duì)測(cè)試夾（“棒”—“夾”模式） | 4、測(cè)試夾對(duì)測(cè)試夾（“夾”—“夾”模式） |
開(kāi)發(fā)編譯
TVED為每一塊電路的每一個(gè)子測(cè)試都安排了一個(gè)說(shuō)明文件。該說(shuō)明文件可以通過(guò)任何一個(gè)文本編輯器建立，并按TVED要求轉(zhuǎn)換后即可與相應(yīng)子測(cè)試關(guān)聯(lián)起來(lái)，隨時(shí)用熱鍵查看相應(yīng)說(shuō)明文件。
| 1、TVED允許兩種建立測(cè)試圖形和方法 a）在TVED圖形界面上直接建立 b）讀入DCL語(yǔ)言的編譯結(jié)果 |
| 2、編輯測(cè)試圖形 利用TVED提供的波形編輯功能，參考取回的響應(yīng)，不斷對(duì)測(cè)試圖形加以調(diào)整、修改。 |
| 3、4種測(cè)試方式： a）完整執(zhí)行一個(gè)測(cè)試 b）執(zhí)行一個(gè)測(cè)試的一部分c）循環(huán)執(zhí)行 d）單步運(yùn)行 |
| 型號(hào) | ICT4040XP | ICT4880XP | ICT8080XP |
| 通道 | ICTF: 40th V/I曲線(xiàn):40th | ICTF: 40th V/I曲線(xiàn): 80th | ICTF: 40×2th V/I曲線(xiàn): 80th |
| 附件 | 雙列直插夾具（7件） 表面貼雙列直插夾具（7件） 單排式40腳夾具（3件） |
| 價(jià)格 | 28,000 | 36,000 | 48,000 |
| 產(chǎn)地 | 科奇儀器 |
補(bǔ)充：ICT4080P/8080P系統(tǒng)功能
| 單個(gè)器件功能測(cè)試 | IC狀態(tài)測(cè)試 | VI曲線(xiàn)分析 | PROM操作 | LSI在線(xiàn)分析 | 數(shù)據(jù)庫(kù)整理 |
| 器件端口特征曲線(xiàn)測(cè)試 | 系統(tǒng)維修日記 | 使用原測(cè)試軟件 | TVDE高級(jí)測(cè)試平臺(tái) | 全面網(wǎng)絡(luò)測(cè)試 |
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對(duì)應(yīng)于“單個(gè)器件功能測(cè)試”中的12個(gè)功能
| MSI在線(xiàn)功能測(cè)試 | MSI離線(xiàn)功能測(cè)試 | MSI在線(xiàn)型號(hào)識(shí)別 | MSI離線(xiàn)型號(hào)識(shí)別 |
| MS在/離線(xiàn)循環(huán)測(cè)試 | RAM離線(xiàn)*測(cè)試 | RAM在線(xiàn)快速測(cè)試 | RAM在線(xiàn)*測(cè)試 |
| PROM離線(xiàn)空檢測(cè) | LSI離線(xiàn)功能測(cè)試 | LSI在線(xiàn)功能測(cè)試 | LSI離線(xiàn)測(cè)試庫(kù)更新 |
對(duì)應(yīng)于“PROM操作”中的11個(gè)子功能
| PROM離線(xiàn)*學(xué)習(xí) | PROM離線(xiàn)*比較 | PROM在線(xiàn)快速顯示 | PROM離線(xiàn)學(xué)習(xí)庫(kù)內(nèi)容轉(zhuǎn)換 |
| PROM在線(xiàn)快速學(xué)習(xí) | PROM在線(xiàn)快速比較 | PROM在線(xiàn)*學(xué)習(xí) | PROM在線(xiàn)*學(xué)習(xí)庫(kù)內(nèi)容顯示 |
| PROM在線(xiàn)*比較 | PROM離線(xiàn)學(xué)習(xí)庫(kù)內(nèi)容顯示 | PROM在線(xiàn)*學(xué)習(xí)庫(kù)內(nèi)容轉(zhuǎn)換 |
對(duì)應(yīng)于“VI曲線(xiàn)分析”中的4大功能
| VI曲線(xiàn)學(xué)習(xí) | VI曲線(xiàn)比較 | VI曲線(xiàn)顯示 | 雙板直接對(duì)比 |
對(duì)應(yīng)于“IC狀態(tài)測(cè)試”中的3大功能
| IC狀態(tài)學(xué)習(xí) | IC狀態(tài)比較 | IC狀態(tài)顯示 |
對(duì)應(yīng)于“LSI在線(xiàn)分析”中的3大功能
| LSI在線(xiàn)學(xué)習(xí) | LSI在線(xiàn)比較 | LSI在線(xiàn)顯示 |
對(duì)應(yīng)于主框架的17項(xiàng)功能按鈕
| 單個(gè)器件功能測(cè)試 | IC狀態(tài)測(cè)試 | VI曲線(xiàn)分析 |
| PROM操作 | LSI在線(xiàn)分析 | 模擬器件直接測(cè)試 |
| 系統(tǒng)自檢 | 數(shù)據(jù)庫(kù)整理 | 建立系統(tǒng)維修日記文件 |
| 原測(cè)試軟件 | TVDE高級(jí)測(cè)試平臺(tái) | 全面網(wǎng)絡(luò)測(cè)試 |
| 交疊方式排列窗口 | 非交疊方式排列窗口 | 分割窗口 |
| 主界面 | 進(jìn)入系統(tǒng)幫助 | |
對(duì)應(yīng)于“模擬器件直接測(cè)試”菜單的3大功能
| 模擬器件直接測(cè)試 | 模擬器件型號(hào)識(shí)別 | 添加新器件 |
熱鍵
| ·Alt+L 進(jìn)入“LSI在線(xiàn)分析”界面 | ·Alt+M 進(jìn)入“數(shù)據(jù)庫(kù)整理”界面 |
| ·Alt+N 進(jìn)入“全面網(wǎng)絡(luò)測(cè)試”界面 | ·Alt+O 進(jìn)入原測(cè)試軟件界面 |
| ·Alt+R 進(jìn)入“PROM操作”界面 | ·Alt+S 進(jìn)入“IC狀態(tài)測(cè)試”界面 |
| ·Alt+T 進(jìn)入“系統(tǒng)自檢”界面 | ·Alt+V 進(jìn)入“VI曲線(xiàn)分析”界面 |
| ·F1 獲取幫助 | ·Alt+X 退出本系統(tǒng) |
系統(tǒng)運(yùn)行環(huán)境
| 操作系統(tǒng) ： Win 9X 或 Windows XP | 內(nèi) 存 ： ≥16M |
| C P U ： PII 以上 | 硬盤(pán)空間 ： ≥25M |
| 顯 示 ： 1024×768，24位真彩色 | 鼠 標(biāo) ： *，可為任意型號(hào) |
| 電 源 ： 220V/50Hz | |
固話(huà)：0512-68790450 
手機(jī)：13915418480
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